یکی از چالشی‌ترین تست‌های مربوط به کلید قدرت، انجام تست همزمانی پل‌ها هنگام قطع و وصل، یا همان time test در پست برقدار است. در پست‌های برقدار به دلیل القای الکترواستاتیکی ولتاژ روی پل‌های کلید، امکان انجام تست به روش‌های متداول وجود ندارد. به همین دلیل بایستی روشی اتخاذ شود که در این شرایط بتوان کلیدهای قدرت را تست کرد.
روش متداول تایم تست
در این روش پل‌های کلید قدرت از یک سمت یا از هر دو سمت از زمین پست باید ایزوله شوند. سپس مطابق شکل (۱)، ولتاژ DC به یک سمت پل‌ها اعمال شده و سمت دیگر توسط ورودی‌های اندازه‌گیری دستگاه قرائت می‌شوند. با قطع و یا وصل نمودن هر پل، به ترتیب می‌توان زمان قطع و وصل هر پل را جداگانه اندازه‌گیری کرد. همچنین بایستی فرامین ارسالی به کویل‌های قطع و وصل و همچنین جریان موتور کلید نیز ثبت شوند. مرجع زمانی برای اندازه‌گیری زمان قطع و وصل، لحظه ارسال فرمان به کویل‌ها می‌باشد.
شکل(۱) مدار متداول در تایم تست کلید
در این روش به دلیل اینکه پس از باز شدن کلید، یک سمت آن زمین نشده، به دلیل القای الکترواستاتیکی، دارای ولتاژ بوده و برای دستگاه تست و اپراتور خطرناک خواهد بود. این پدیده در شکل(۲) نشان داده شده است. موارد متعددی از سوختن دستگاه‌های تست در این حالت گزارش شده است.
شکل(۲) نحوه القای ولتاژ و عبور جریان خازنی از دستگاه تست
روش BSG تایم تست
یک روش ابداعی تحت عنوان both side grounded توسط سازندگان مطرح دنیا که دستگاه‌های تست کلید می‌سازند عرضه شده است. در این روش بر خلاف روش قبلی، کلید قدرت از هر دو سمت زمین می‌شود و دستگاه تست به آن وصل شده و تست را انجام می‌دهد. مزیت این روش این است که به دلیل حذف ولتاژ القایی با زمین شدن هر دو سمت، هیچ خطری دستگاه تست و اپراتور را تهدید نمی‌کند. در ضمن نتیجه تست نیز معتبر بوده و نویز ناشی از محیط باعث اختلال و اشتباه در عملکرد دستگاه تست نخواهد شد. نحوه انجام این تست در مدار شکل(۳) نمایش داده شده است.
شکل(۳) نحوه حذف تاثیر ولتاژ القایی در روش BSG
مهمترین ویژگی دستگاه KAVOSH T22 این است که شما می‌توانید با گذاشتن ماژول CB1 روی پنل دستگاه، علاوه بر کاهش حجم سیم کشی، تایم تست را به روش BSG انجام دهید. در این حالت ماژول کاوش CB1 با حذف ولتاژ القایی، عملکردی ایمن برای دستگاه و همچنین افزایش ایمنی اپراتور را تضمین می‌کند. مدار تست با استفاده از این ماژول در شکل(۴) نشان داده شده است.
شکل(۴) مدار تایم تست کلید با ماژول CB1
